Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial

Apresentação em tema: "Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial"— Transcrição da apresentação:

1 Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial
1 Medir Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial

2 Medições no dia-a-dia Potência da lâmpada Horário do despertador
Comprimento da calça Tempo de cozimento Volume de leite Volume de combustível Temperatura da geladeira Velocidade do automóvel Pressão dos pneus Consumo de energia Dimensões das peças Rotação do motor Tamanho do peixe Quantidade de arroz Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 2/30)

3 Importância de medir "O conhecimento amplo e satisfatório sobre um processo ou fenômeno somente existirá quando for possível medi-lo e expressá-lo através de números". Lord Kelvin, 1883 Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 3/30)

4 instrumento de medição
Exemplo de medição 1 mensurando indicação 2,4 unidades unidade 1 2 3 4 instrumento de medição Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 4/30)

5 Exemplo de medição 2 tensão do gerador: 5,305 V
constante do sistema de medição: 15,080 (km/h)/V velocidade: 5,305 V . 15,080 (km/h)/V = 80,0 km/h Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 5/30)

6 1.2 O que é medir?

7 O que é medir? Medir é o procedimento experimental através do qual o valor momentâneo de uma grandeza física (mensurando) é determinado como um múltiplo e/ou uma fração de uma unidade, estabelecida por um padrão, e reconhecida internacionalmente. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 7/30)

8 Algumas definições Mensurando é o objeto da medição. É a grandeza específica submetida a medição. Indicação é o valor de uma grandeza fornecido por um sistema de medição. Indicação direta é o número mostrado pelo sistema de medição. A indicação direta pode ou não ser apresentada na unidade do mensurando. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 8/30)

9 constante do sistema de medição: 15,080 (km/h)/V
mensurando indicação direta tensão do gerador: 5,305 V constante do sistema de medição: 15,080 (km/h)/V indicação velocidade: 5,305 V . 15,080 (km/h)/V = 80,0 km/h Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 9/30)

10 1.3 Medir para que?

11 Medir para que? Monitorar Controlar Investigar
Observar passivamente grandezas Controlar Observar, comparar e agir para manter dentro das especificações. Investigar Descobrir o novo, explicar, formular. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 11/30)

12 Medir para monitorar... Compra e venda de produtos e serviços:
consumo de água, energia elétrica, taxímetro, combustíveis, etc. Sinais vitais: pressão arterial, temperatura, nível de colesterol Atividades desportivas: desempenho, recordes Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 12/30)

13 Medir para monitorar... Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 13/30)

14 Medir para controlar... Medir Comparar Agir Especificações xxxx ± xx
yyyy ± yy zzz ± z Medir Comparar Agir Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 14/30)

15 Medir para controlar... Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 15/30)

16 Medir para controlar... rota pressão altitude temperatura velocidade
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 16/30)

17 Medir para investigar... Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 17/30)

18 Medir para investigar... Pequenas diferenças nas medidas podem levar a conclusões completamente diferentes. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 18/30)

19 Medir para investigar... Compreender Dominar Evoluir Inovar
Descobertas científicas, estudar fenômenos Dominar Validar, know-how Evoluir Melhorar continuamente, expandir limites Inovar Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 19/30)

20 Elementos da inovação tecnológica
Idéia invento oportunidade Produto Serviço Inovador pesquisa aplicada pesquisa aplicada CQ CQ patenteamento ensaios ensaios desenvolvimento desenvolvimento certificação certificação prototipagem prototipagem design marketing produção produção processos fabricação processos fabricação plano produção plano produção Onde tem metrologia? Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 20/30)

21 1.4 Errar é inevitável

22 Medições geram erros má definição do mensurando
imperfeições do sistema de medição mensurando Sistema de medição indicação ± ERROS procedimento de medição influência do operador condições ambientais Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 22/30)

23 1.5 O processo de medição

24 Processo de medição definição do mensurando procedimento de medição
resultado da medição condições ambientais operador sistema de medição Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 24/30)

25 1.6 O resultado da medição

26 Resultado da medição mensurando Sistema de medição indicação -IM RB
VV Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 26/30)

27 Resultado da medição RM = (RB ± IM) unidade
É a faixa de valores dentro da qual deve se situar o valor verdadeiro do mensurando. Resultado base é a estimativa do valor do mensurando que, acredita-se, mais se aproxime do seu valor verdadeiro. Incerteza da medição é o tamanho da faixa simétrica, e centrada em torno do resultado base, que delimita a faixa onde se situam as dúvidas associadas à medição. RM = (RB ± IM) unidade Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 27/30)

28 Pilares da Metrologia M Conhecimento Honestidade Bom-senso
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 28/30)

29 A linguagem da metrologia
1.7 A linguagem da metrologia

30 A linguagem da metrologia
Até 1995: “Torre de Babel” Em 10 de Março de 1995: Portaria INMETRO n° 029 “Vocabulário de Termos Fundamentais e Gerais de Metrologia” (VIM) Em sintonia com: ISO, BIPM, IEC, IFCC, IUPAC, IUPAP Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 30/30)