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Eng. Emilio Miranda Eng. Vanilson Leite

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Apresentação em tema: "Eng. Emilio Miranda Eng. Vanilson Leite"— Transcrição da apresentação:

1 Eng. Emilio Miranda Eng. Vanilson Leite
IEEE Boundary Scan Eng. Emilio Miranda Eng. Vanilson Leite Abril de 2008

2 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Escopo A norma IEEE define extensões para a norma IEEE no sentido de padronizar estruturas e métodos para a realização de teste minimamente intrusivos em redes digitais avançadas de alto desempenho. Estas redes podem ser do tipo par diferencial, acoplada por AC ou ambas. Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 2

3 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Objetivos O objetivo da norma IEEE é ser um guia de projeto para inserir capacidades de testes em pares diferenciais ou não, acoplados em AC ou em DC; Os problemas que a norma propõem-se a encontrar podem ser resumidos em dois tipos: de curto-circuito ou de circuito aberto nas trilhas da pcb e nos pinos do CI; Os testes poderão cobrir uma larga faixa de problemas por que incluem as instruções da IEEE Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 3

4 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Introdução O padrão IEEE foi lançado em 1990, posteriormente teve duas revisões senda a última em 2001; Devido ao aumento dos níveis de integração e das velocidades dos sinais transmitidos nas placas. Os projetistas preferem usar pares diferenciais para comunicação serial de alta velocidade, devido a sua robustez em relação a ruídos Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 4

5 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Introdução Em 2001 foi formado um grupo para desenvolver uma extensão do IEEE que permitisse testar pares diferenciais e/ou sinais com acoplamento AC; Em 2003, com menos de dois anos foi lançado a extensão IEEE ; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 5

6 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Tecnologia O uso de capacitores em série para o acoplamento AC bloqueia os sinais DC entre o TX e o RX. logo será necessário o uso de sinais variantes no tempo, para o sinal passar pelos capacitores, durante o teste no modo AC; O acoplamento AC cria uma rede RC que causa uma queda no sinal com o tempo. Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 6

7 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Tecnologia O tempo para lançar um sinal do driver e o mesmo ser capturado no receiver durante o teste, não é menor que 2.5 TCK; O tempo para sucessivos sinais não depende somente do TCK, mas da quantidade de deslocamento serial preciso para carregar os dados nos registros concatenados da Boundary-Scan Chain. Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 7

8 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Tipos de pinos e sinais Single-ended DC; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 8

9 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Tipos de pinos e sinais Single-ended AC; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 9

10 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Tipos de pinos e sinais Resposta do Single-ended AC: Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 10

11 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Tipos de pinos e sinais Differential DC; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 11

12 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Tipos de pinos e sinais Differential DC; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 12

13 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Tipos de pinos e sinais Differential AC: Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 13

14 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Tipos de pinos e sinais Differential AC; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 14

15 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Defeitos Defeitos são anormalidades na estrutura da placa de circuito impresso que ocorrem durante a manufatura que devem ser encontrados e corrigidos. Tais como solda aberta, curtos, componentes não montados e componente com defeito; Não são levados em consideração defeitos relacionados a performance; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 15

16 Defeitos procurados pelo Padrão
Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 16

17 Defeitos procurados pelo Padrão
Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 17

18 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Exemplo de Defeitos Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 18

19 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Exemplo de Defeitos Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 19

20 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Exemplo de Defeitos Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 20

21 Terminações diferenciais
Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 21

22 Implementação dos testes
Single-ended drive; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 22

23 Implementação dos testes
Diferencial drive; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 23

24 Implementação dos testes
Single-ended receiver; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 24

25 Implementação dos testes
Diferencial receiver; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 25

26 Implementação dos testes
Recepção de instruções AC; O capacitor em série com um sinal produz um offset desconhecido ao mesmo; Devido ao offset, não podemos fazer uma simples comparação do sinal com uma tensão de referência; Como solução podemos observar a informação contida na transição do sinal(voltage swing AV e transition time At), que é independente do offset; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 26

27 Implementação dos testes
Variação de AV e AT Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 27

28 Implementação dos testes
Recepção de instruções AC; Uma maneira de obter essa transição no sinal, é fazer a comparação do sinal com o mesmo sinal atrasado; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 28

29 Implementação dos testes
Implementação deste atraso: Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 29

30 Implementação dos testes
Modelo do self-referenced test receiver: Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 30

31 Implementação dos testes
Differential driver test receiver: Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 31

32 Implementação dos testes
Caminho do sinal do driver até o receiver: Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 32

33 Implementação dos testes
Test receiver para instruções AC e DC: Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 33

34 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Instruções O IEEE adicionou mais duas novas instruções para os testes AC: EXTEST_PULSE; EXTEST_TRAIN; As instruções do IEEE para os teste DC também são suportadas pelo IEEE ; Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 34

35 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Instruções A instrução EXTEST_PULSE: Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 35

36 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Instruções A instrução EXTEST_TRAIN: Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 36

37 Emilio Miranda/Vanilson Leite
Referências IEEE Std , IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital networks; IEEE Std , IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture; Eklow B., “IEEE a practical perspective,” ITC International Test Conference 2003. Eklow B., Barnhart C., “IEEE : A Boundary-Scan Standard for Advanced Digital Networks. Abril de 2008 Emilio Miranda/Vanilson Leite 37


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