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IEEE 1149.6 Boundary Scan Eng. Emilio Miranda Eng. Vanilson Leite Abril de 2008.

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1 IEEE Boundary Scan Eng. Emilio Miranda Eng. Vanilson Leite Abril de 2008

2 Escopo A norma IEEE define extensões para a norma IEEE no sentido de padronizar estruturas e métodos para a realização de teste minimamente intrusivos em redes digitais avançadas de alto desempenho. Estas redes podem ser do tipo par diferencial, acoplada por AC ou ambas. Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

3 Objetivos O objetivo da norma IEEE é ser um guia de projeto para inserir capacidades de testes em pares diferenciais ou não, acoplados em AC ou em DC; Os problemas que a norma propõem-se a encontrar podem ser resumidos em dois tipos: de curto- circuito ou de circuito aberto nas trilhas da pcb e nos pinos do CI; Os testes poderão cobrir uma larga faixa de problemas por que incluem as instruções da IEEE Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

4 Introdução O padrão IEEE foi lançado em 1990, posteriormente teve duas revisões senda a última em 2001; Devido ao aumento dos níveis de integração e das velocidades dos sinais transmitidos nas placas. Os projetistas preferem usar pares diferenciais para comunicação serial de alta velocidade, devido a sua robustez em relação a ruídos Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

5 Introdução Em 2001 foi formado um grupo para desenvolver uma extensão do IEEE que permitisse testar pares diferenciais e/ou sinais com acoplamento AC; Em 2003, com menos de dois anos foi lançado a extensão IEEE ; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

6 Tecnologia O uso de capacitores em série para o acoplamento AC bloqueia os sinais DC entre o TX e o RX. logo será necessário o uso de sinais variantes no tempo, para o sinal passar pelos capacitores, durante o teste no modo AC; O acoplamento AC cria uma rede RC que causa uma queda no sinal com o tempo. Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

7 Tecnologia O tempo para lançar um sinal do driver e o mesmo ser capturado no receiver durante o teste, não é menor que 2.5 TCK; O tempo para sucessivos sinais não depende somente do TCK, mas da quantidade de deslocamento serial preciso para carregar os dados nos registros concatenados da Boundary- Scan Chain. Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

8 Tipos de pinos e sinais Single-ended DC; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

9 Tipos de pinos e sinais Single-ended AC; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

10 Tipos de pinos e sinais Resposta do Single-ended AC: Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

11 Tipos de pinos e sinais Differential DC; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

12 Tipos de pinos e sinais Differential DC; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

13 Tipos de pinos e sinais Differential AC: Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

14 Tipos de pinos e sinais Differential AC; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

15 Defeitos Defeitos são anormalidades na estrutura da placa de circuito impresso que ocorrem durante a manufatura que devem ser encontrados e corrigidos. Tais como solda aberta, curtos, componentes não montados e componente com defeito; Não são levados em consideração defeitos relacionados a performance; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

16 Defeitos procurados pelo Padrão Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

17 Defeitos procurados pelo Padrão Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

18 Exemplo de Defeitos Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

19 Exemplo de Defeitos Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

20 Exemplo de Defeitos Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

21 Terminações diferenciais Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

22 Implementação dos testes Single-ended drive; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

23 Implementação dos testes Diferencial drive; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

24 Implementação dos testes Single-ended receiver; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

25 Implementação dos testes Diferencial receiver; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

26 Implementação dos testes Recepção de instruções AC; –O capacitor em série com um sinal produz um offset desconhecido ao mesmo; –Devido ao offset, não podemos fazer uma simples comparação do sinal com uma tensão de referência; –Como solução podemos observar a informação contida na transição do sinal(voltage swing AV e transition time At), que é independente do offset; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

27 Implementação dos testes Variação de AV e AT Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

28 Implementação dos testes Recepção de instruções AC; –Uma maneira de obter essa transição no sinal, é fazer a comparação do sinal com o mesmo sinal atrasado; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

29 Implementação dos testes Implementação deste atraso: Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

30 Implementação dos testes Modelo do self-referenced test receiver: Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

31 Implementação dos testes Differential driver test receiver: Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

32 Implementação dos testes Caminho do sinal do driver até o receiver: Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

33 Implementação dos testes Test receiver para instruções AC e DC: Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

34 Instruções O IEEE adicionou mais duas novas instruções para os testes AC: –EXTEST_PULSE; –EXTEST_TRAIN; As instruções do IEEE para os teste DC também são suportadas pelo IEEE ; Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

35 Instruções A instrução EXTEST_PULSE: Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

36 Instruções A instrução EXTEST_TRAIN: Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite

37 Referências IEEE Std , IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital networks; IEEE Std , IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture; Eklow B., IEEE a practical perspective, ITC International Test Conference Eklow B., Barnhart C., IEEE : A Boundary-Scan Standard for Advanced Digital Networks. new-flash.htm Abril de Emilio Miranda/Vanilson Leite


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