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Observação de Defeitos Pontuais Micrografia de tunelamento da superfície de um cristal de Pt. Resolução atômica com lacunas claramente resolvidas. FONTE:

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1 Observação de Defeitos Pontuais Micrografia de tunelamento da superfície de um cristal de Pt. Resolução atômica com lacunas claramente resolvidas. FONTE:

2 Micrografia de tunelamento da superfície de um cristal de Si. Resolução atômica com lacunas claramente resolvidas. Observação de Defeitos Pontuais FONTE:

3 FONTE: Observação de Discordâncias Micrografia óptica de um monocristal de LiF evidenciando a presença de defeitos a partir do ataque preferencial à regiões distorcidas da rede cristalina

4 Micrografia eletrônica de transmissão apresentando discordâncias em uma liga de Ti. O contraste de discordâncias é obtido no MET por difração de elétrons que não satisfaçam a condição de Bragg em função da distorção elástica da rede cristalina nas adjacências de uma discordância. Observação de Discordâncias FONTE:

5 Observação de Discordâncias Micrografia eletrônica de transmissão apresentando uma fonte de Frank-Read. Anéis concêntricos de discordâncias se expandem radialmente a partir da mesma origem. FONTE:

6 Observação de Discordâncias FONTE:

7 Observação de Discordâncias Micrografia eletrônica de transmissão apresentando emaranhado de discordâncias. FONTE:


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