Arquitectura distribuída para o teste de cartas de circuito impresso compatíveis com as normas IEEE 1149.1 e 1149.4 O aluno: José Luís Ramalho O orientador:

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1 Arquitectura distribuída para o teste de cartas de circuito impresso compatíveis com as normas IEEE 1149.1 e 1149.4 O aluno: José Luís Ramalho O orientador: Prof. José M. Martins Ferreira DEEC - FEUP

2 MEECDezembro de 2002JLR2 Enquadramento A necessidade de testar. Testadores Automáticos. A norma IEEE 1149.x O trabalho a desenvolver

3 MEECDezembro de 2002JLR3 Necessidade de testar Sem teste não há produção O custo do teste é muito elevado, mas o custo de estratégias de teste insuficientes é ainda mais elevado O teste automático

4 MEECDezembro de 2002JLR4 Testadores Automáticos tipos de testadores: - de componentes - de placas de circuito impresso - analisadores de defeitos de fabrico - in-circuit - funcionais

5 MEECDezembro de 2002JLR5 A norma IEEE 1149.x A dificuldade do acesso físico aos pontos de teste. Joint Test Action Group – (JTAG) O Boundary Scan Test - (BST)

6 MEECDezembro de 2002JLR6 Objectivo do trabalho Desenvolvimento de vários módulos que implementem de forma distribuída e paralela as várias tarefas elementares que possibilitem o teste de cartas de circuito impresso com BST. Interligação com um PC para gestão do conjunto. Ligação à Internet usando um micro servidor Web

7 MEECDezembro de 2002JLR7 Objectivo do trabalho – cont.