Ajuste de curvas - Método dos Mínimos Quadrados

Slides:



Advertisements
Apresentações semelhantes
Instrumentação de Sistemas - INS
Advertisements

Controle Digital Prof. Cesar da Costa 1.a Aula – Variável de Processo.
Medidas de Tempo Nunca se escreve 2,40 h para representar 2h e 40 min, pois as medidas de tempo não são decimais.
Colégio Integrado Jaó 2ª Série/2010
SIMATIC S7 Siemens Ltda. SITRAIN Training for Automation and Industrial Solutions Processamento de Valores Analógicos Transmissor de Nível Nível Superior.
MEDIÇÃO DE TEMPERATURA E NÍVEL
Sumário Bem ou serviço compósito = dinheiro Exercícios 2 Exercícios 3.
Administração amintas paiva afonso.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial
Organização da Memória
Importância do Ajustamento de Observações
Custo Médio Ponderado do Capital
Estatística Aula 19 Prof. Marllus Gustavo Ferreira Passos das Neves
Eng 639 – Processamento de Imagens Digitais
Interpretação da análise de solo
Acordo entre dois Métodos Bland and Altman Plot
Sistemas de medição - TM-117
Uma proposição equivalente a “Se alimento e vacino as crianças, então reduzo a mortalidade infantil” é 01) Alimento e vacino as crianças ou não.
QUESTÕES de 01 a 03 INSTRUÇÃO: Para responder a essas questões, identifique as afirmativas verdadeiras e, em seguida, marque na Folha de Respostas a alternativa.
Treinamento do cálculo de perda de carga para diferentes fluidos
Resultados de Medições Indiretas
TM247 - Sistemas de Medição Prof. Alessandro Marques www. metrologia
TM361 - Sistemas de Medição 1 Prof. Alessandro Marques www. metrologia
TM361 - Sistemas de Medição 1 Prof. Alessandro Marques www. metrologia
O Sistema de Medição.
TM361 - Sistemas de Medição 1 Prof. Alessandro Marques www. metrologia
O resultado da medição na presença de várias fontes de incertezas
UMEC GESTÃO FINANCEIRA.
Técnicas de Tomada de Decisão
Ernesto F. F. Ramírez e Saide J. Calil
Conceitos introdutórios
Método de Referência par Determinação de Material Particulado
OS MOVIMENTOS.
CE Oscilógrafo e Analisador de Energia
Matemática Financeira
MATEMÁTICA FINANCEIRA NA EDUCAÇÃO BÁSICA
PROGRAMA PARA TRATAMENTO E ANÁLISE ESTATÍSTICA DE DADOS EXPERIMENTAIS 1,2,3 Cláudio Sérgio Sartori e 4 Edjar MartinsTelles 1 Faculdade de Tecnologia.
8 Propagação de Incertezas Através de Módulos
5 Calibração de Sistema de Medição
7 Resultados de Medições Indiretas
6 Resultados de Medições Diretas
180 – ,1 1 a) Epd = = = 1 Unitária 55 – ,65 0,65 0, 4 b) Epd = = = 1,6 Elástica 1,5 – 2,5 2,5 1 0,5 4 – a) Exy = = = 2 b) Substitutos.
ESCALAS.
MEDIDAS DE VARIABILIDADE DADOS NÃO-AGRUPADOS
1 ESTATÍSTICA. 2 UDIII - Relação Entre Duas ou Mais Variáveis ESTATÍSTICA Ass 01: Regressão Simples.
ESTATÍSTICA.
Método da propagação de ondas de cheias
Ciências Farmacêuticas 2º ano Métodos Instrumentais de Análise I
Introdução teórica A modulação em freqüência consiste na variação da freqüência da portadora proporcionalmente ao sinal de informação. Dado o sinal modulador.
O Preço dos produtos são definidos segundo o seguinte
Medidas Eletromagnéticas
 = 3M =  Exercícios de Reologia
Exercícios do professor Culquísár! 20/09/ O ar de um ambiente é trocado pelo efeito chaminé/ diferença de densidade, mediante a entrada de ar.
Cinética Química Prof. Emiliano Chemello Novembro/2008.
ÀREAS RESTRITAS PROPOSTA DA NR 10
CUSTO PADRÃO E ANÁLISE DAS VARIAÇÕES DE CUSTOS
NAVEGAÇÃO PARA PROVAS DE REGULARIDADE
Introdução à METROLOGIA
Cada site custaTotal de vendas por mêsGanho Mensal R$2.000,001 venda/cliente por mêsR$2.000,00 5 venda/cliente por mêsR$10.000,00 R$2.000,0010 venda/cliente.
PASSEIO – CCS-BR Objetivo  Conhecer a opção de passeio oferecido para a turma do CCS-BR 2014.
7 Resultados de Medições Indiretas
Características generalizadas de desempenho de instrumentos
Resultados de Medições Indiretas
Exercícios Cálculo de Incerteza de Medição
SISTEMA DE AVALIAÇÃO 6º AO 9º ANO.
Formas de calibração 1º - Padrões externos É a forma mais utilizada de calibração. São utilizadas soluções contendo concentrações conhecidas do analito.
AVALIAÇÃO DA INCERTEZA DE MEDIÇÃO
O Sistema de Medição.
QUI 154/150 – Química Analítica V Análise Instrumental
Capítulo 2 - Características estáticas e dinâmicas
Transcrição da apresentação:

Ajuste de curvas - Método dos Mínimos Quadrados Devido a simplicidade dos cálculos e a extensa aplicabilidade em ajustes de curvas em pontos (regressão numérica), o método dos mínimos quadrados é largamente utilizado na calibração estática de sistemas de medição. Pode-se utilizar este método para vários tipos de curvas (funções), e aqui apresenta-se uma aplicação para medidor de vazão tangencial, calibrado através do método gravimétrico.

Equacionamento: Q Qi l/s 0,09 0,20 0,31 0,30 0,39 0,40 0,48 0,50 0,57 0,60 0,65 0,70 0,74 0,80 0,84 0,91 0,93 1,00 Qi = 1,105 . Q - 0,0246 Q = 0,902 . Qi + 0,0232

Propagação de Incertezas Através de Módulos

Motivação Algumas vezes é necessário compor sistemas de medição reunido módulos já existentes. O comportamento metrológico de cada módulo é conhecido separadamente. Qual o comportamento metrológico do sistema resultante da combinação dos vários módulos?

? Transdutores UTS Dispositivos mostradores 0.000 0.000 0.000 0.000 6.414

Composição de sistemas de medição sistema de medição Módulo 1 Módulo 2 Módulo n ... ESM SSM

Modelo matemático para um módulo S(M1) Idealmente: K(M1) : sensibilidade C(M1) : correção u(M1) : incerteza padrão S(M1) = K(M1) . E(M1) Em função dos erros: S(M1) = K(M1) . E(M1) + C(M1) ± u(M1)

Modelo para dois módulos E(M1) S(M2) E(M2) S(M1) = K(M1) . E(M1) + C(M1) ± u(M1) S(M2) = K(M2) . E(M2) + C(M2) ± u(M2) E(M2) = S(M1) S(M2) = K(M2) . [K(M1) . E(M1) + C(M1) ± u(M1)] + C(M2) ± u(M2) S(M2) = K(M1) . K(M2) . E(M1) + [C(M1). K(M2) + C(M2)] ± [u(M1). K(M2) + u(M2)]

Modelo matemático para n módulos Sensibilidade Equivalente Modelo matemático para n módulos Módulo 1 ... Módulo 2 Módulo n E(SM) S(SM) K(M1), C(M1), u(M1) K(M2), C(M2), u(M2) K(Mn), C(Mn), u(Mn) sensibilidade S(SM) = K(M1) . K(M2) . ... . K(Mn) . E(SM) K(SM) = K(M1) . K(M2) . ... . K(Mn)

Modelo matemático para n módulos Correção Relativa Equivalente Modelo matemático para n módulos correção Cr(SM) = Cr(M1) + Cr(M2) + ... + Cr(Mn) sendo: Cr = correção relativa, calculada por: para o módulo “k” para o sistema de medição CE(SM) = correção na entrada do SM CS(SM) = correção na saída do SM

Modelo matemático para n módulos Incerteza Padrão Relativa Equivalente Modelo matemático para n módulos incerteza ur(SM)2 = ur(M1)2 + ur(M2 )2 + ... + ur(Mn )2 sendo: ur = incerteza relativa, calculada por: para o módulo “k” para o sistema de medição uE(SM) = incerteza na entrada do SM uS(SM) = incerteza na saída do SM

Modelo matemático para n módulos graus de liberdade efetivos sendo: número de graus de liberdade efetivo do sistema de medição a incerteza padrão relativa combinada do sistema de medição a incerteza padrão relativa do i-ésimo módulo n de graus de liberdade da incerteza padrão relativa do i-ésimo módulo

Modelo matemático para n módulos Se o número de graus de liberdade com que cada incerteza padrão é determinada é o mesmo, a equação também pode ser escrita em termos da incerteza expandida como: Ur(SM)2 = Ur(M1)2 + Ur(M2 )2 + ... + Ur(Mn )2 para o módulo “k” para o sistema de medição

Correção e Incerteza Correção e Incerteza em Termos Absolutos Na entrada do SM: Na saída do SM:

Problema: A indicação do voltímetro abaixo é 2,500 V. Determine o resultado da medição do deslocamento, efetuado com o sistema de medição especificado abaixo, composto de: transd. indutivo amplifi-cador voltí-metro ESM= ? 2,500 V

transd. indutivo amplifi-cador voltí-metro ESM= ? 2,500 V transd. indutivo de deslocamentos faixa de medição: 0 a 20 mm sensibilidade: 5 mV/mm correção: - 1 mV u = 2 mV ν=16 unidade de tratamento de sinais faixa de medição: ± 200 mV (entrada) amplificação: 100 X correção: 0,000 V u = 0,2 % (VFE) ν=20 disp. mostrador: voltímetro digital faixa de medição: ± 20 V correção: 0,02% do valor indicado u = 5 mV ν=96

5,00 mm 25,00 mV 2,500 V transd. indutivo amplifi-cador voltí-metro ESM= ? 2,500 V KT = 5 mV/mm CT = - 1 mV uT = 2 mV KUTS = 0,1 V/mV CUTS = 0,000 V uUTS = 0,2 % . 0,20 V KDM = 1 V/V CDM = 0,02 % . 2,5V uDM = 5 mV CrT = - 1/25 = -0,04 urT = 2 /25 = 0,08 CrDM = 0,0005/2,5 = 0,0002 urDM = 0,005/2,5 = 0,002 CrUTS = 0,000 urUTS = 0,0004/2,5 = 0,000016

sensibilidade KSM = KT . KUTS . KDM = 5 mV/mm . 0,1 V/mV . 1 V/V KSM = 0,5 V/mm correção CrSM = CrT + CrUTS + CrDM = -0,0400 + 0,0000 +0,0002 CrSM = -0,0398 na entrada: CESM = CrSM . ESM = -0,0398 . 5,000 mm = -0,199 mm CESM = -0,199 mm

incerteza (urSM)2 = (urT)2 + (urUTS)2 + (urDM)2 (urSM)2 = (0,08)2 + (0,000016)2 + (0,002)2 (urSM)2 = 10-4 . [64 + 0,0000026 + 0,04] urSM = 0,08005 na entrada: uESM = urSM . ESM = 0,08005. 5,000 mm uESM = 0,4002 mm

graus de liberdade efetivos UESM = t . uESM = 2,169 * 0,4002 = 0,868 mm

Resultado da medição RM = I + CESM ± UESM RM = (4,80 ± 0,87) mm