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Observação de Defeitos Pontuais
Micrografia de tunelamento da superfície de um cristal de Pt. Resolução atômica com lacunas claramente resolvidas. FONTE:
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Observação de Defeitos Pontuais
Micrografia de tunelamento da superfície de um cristal de Si. Resolução atômica com lacunas claramente resolvidas. FONTE:
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Observação de Discordâncias
Micrografia óptica de um monocristal de LiF evidenciando a presença de defeitos a partir do ataque preferencial à regiões distorcidas da rede cristalina FONTE:
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Observação de Discordâncias
Micrografia eletrônica de transmissão apresentando discordâncias em uma liga de Ti. O contraste de discordâncias é obtido no MET por difração de elétrons que não satisfaçam a condição de Bragg em função da distorção elástica da rede cristalina nas adjacências de uma discordância. FONTE:
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Observação de Discordâncias
Micrografia eletrônica de transmissão apresentando uma fonte de Frank-Read. Anéis concêntricos de discordâncias se expandem radialmente a partir da mesma origem. FONTE:
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Observação de Discordâncias
FONTE:
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Observação de Discordâncias
Micrografia eletrônica de transmissão apresentando emaranhado de discordâncias. FONTE:
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