A apresentação está carregando. Por favor, espere

A apresentação está carregando. Por favor, espere

Microscopias de ponta de prova - STM e AFM: princípios básicos, instrumentação e pontas - STM e AFM: princípios básicos, instrumentação e pontas - Família.

Apresentações semelhantes


Apresentação em tema: "Microscopias de ponta de prova - STM e AFM: princípios básicos, instrumentação e pontas - STM e AFM: princípios básicos, instrumentação e pontas - Família."— Transcrição da apresentação:

1 Microscopias de ponta de prova - STM e AFM: princípios básicos, instrumentação e pontas - STM e AFM: princípios básicos, instrumentação e pontas - Família derivada do AFM: princípios básicos e aplicações - Família derivada do AFM: princípios básicos e aplicações - Nanolitografia - Nanolitografia - SNOM - SNOM

2 Scanning Tunneling Microscope IBM Zurich 1982 – STM: imagens tridimensionais com resolução atômica real. (G.Binnig, H. Rohrer, Helv. Phys. Acta 55 (1982) 726 ) (G.Binnig, H. Rohrer, Helv. Phys. Acta 55 (1982) 726 Scanning tunneling microscope) Limitação: essencialmente amostras condutoras e semicondutoras. Limitação: essencialmente amostras condutoras e semicondutoras.

3 Tunelamento s EFEFEFEF E F - V I t V (E F ) exp[ ( s) 1/2 ]

4 Resolução atômica real I t V (E F ) exp[- ( s) 1/2 ] I t V (E F ) exp[- ( s) 1/2 ] Distância ponta-superfície: nm tensão de operação: 10 mV - 1V corrente: 0.2 – 10 nA variação na distância de 0.1 nm (raio atômico) corrente varia fator 2 resolução lateral depende do raio da ponta de prova: raio ~10 nm resolução lateral depende do raio da ponta de prova: raio ~10 nm Implica em resolução lateral de ~ 2 nm

5 Átomos na superfície do silício (111) 7x7 G.Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 50 (83) 120

6 Oxigênio na superfície de monocrital de Rh Resolução atômica real

7 Espectroscopia de Corrente de Tunelamento (STS)

8 Nanowires de Pt em Ge (001). Largura: 0.4 nm com espaçamento de 1.6 nm entre as linhas (aspect ratio: 1000). Nanowires

9 STS – nanowires metálicos

10 Manipulação atômica LDOS

11 Nanomanipulação nanoquímica 18 átomos de Césio e 18 átomos de Iodo

12

13

14 We report a mode-selective, molecule-to- molecule conversion by scanning tunneling microscope; a trans-2-butene to a 1,3- butadiene on palladium (110) surface, where the reaction product is chemically identified with single-molecule vibrational spectroscopy. The underlying mechanism is experimentally confirmed as a multiple vibrational excitation of a single adsorbed molecule via inelastic electron tunneling process. Single-molecule reaction and characterization by vibrational excitation, Phys. Rev. Lett. 89, (2002), article number ,

15 Pontas STM: preparação mecânica e eletroquímica

16 Atomic Force Microscope 1986 – AFM: Medida de forças entre a ponta e a superfície (<1 N) (G.Binnig, D.F. Quate, Ch. Gerber, Phys. Rev. Lett. 56 (86) 930 ). (G.Binnig, D.F. Quate, Ch. Gerber, Phys. Rev. Lett. 56 (86) 930 Atomic force microscope) G. Binng and H. Roher: Nobel em Física

17

18 Esquema de funcionamento de um AFM

19 200 m 5 m Cantilevers

20 Silício MWNT


Carregar ppt "Microscopias de ponta de prova - STM e AFM: princípios básicos, instrumentação e pontas - STM e AFM: princípios básicos, instrumentação e pontas - Família."

Apresentações semelhantes


Anúncios Google