Visualização de Nanoestruturas
Microcopia Electrónica
Microscópios Electrónicos Utilizam as propriedades ondulatórias do electrão Num microscópio óptico: resolução é determinada pelo comprimento de onda da luz No caso dos electrões considera-se o comprimento de onda de de Broglie Variando a energia do feixe de electrões Varia-se o seu comprimento de onda Electrões com alta energia Baixo comprimento de onda Energia típica ~100 KeV, corresponde a λ ~ 0.0037 nm No entanto a própria construcção do aparelho vai influenciar a resolução
Microscópios Electrónicos Não é possivel usar lentes ópticas para electrões Lentes Magnéticas Reduz a resolução do microscópio Deixa de depender apenas da energia do feixe
Microscópio Electrónico de Transmissão O primeiro TEM foi construído em 1938 por Albert Prebus e James Hillier Feixe de Electrões é transmitido através da amostra
Microscópio Electrónico de Transmissão A amostra tem de ser transparente aos electrões Amostras com espessuras inferiores a 100nm Para resolução atómica Espessura ~10nm Amostra Substrato Remoção de Material
Microscópio Electrónico de Transmissão Dois modos de funcionamento Imagem Semelhante a um microscópio óptico Difracção Estrutura atómica difracta os electrões Rede do Nitreto de Silicio Padrão de Difracção MgB2
Microscópio Electrónico de Varrimento Inventado por volta de 1930 por Manfred von Ardenne O feixe electrónico é varrido sobre a amostra Resolução inferior ao TEM Quando os electrões atingem a amostra ocorrem diversas interações Permite imagens a 3 dimensões Opera em modo de reflexão Captação dos electrões resultantes dessas interacções, permite obter a imagem com informação sobre propriedades específicas da amostra