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Circuitos Integrados Digitais ELT017

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Apresentação em tema: "Circuitos Integrados Digitais ELT017"— Transcrição da apresentação:

1 Circuitos Integrados Digitais ELT017

2 Células de Memória de Acesso Aleatório - Dinâmica
Aula 7 Células de Memória de Acesso Aleatório - Dinâmica ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

3 Célula de Memória Dinâmica (1)
Vários tipos de células do tipo dinâmica (DRAM) foram propostas, contudo uma célula em particular se tornou o padrão industrial, sendo: Transistor de acesso - Um único transistor MOSFET canal n (Q) Capacitor de armazenamento (CS) Gate do transistor é conectado à linha de palavra, dreno (ou fonte) é conectado à linha de bit ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

4 DRAM x SRAM Circuito DRAM é relativamente mais simples
Circuito DRAM possui apenas a linha de bit (B) Circuito SRAM possui a linha B e a linha 𝐵 ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

5 Célula de Memória Dinâmica (2)
A célula DRAM armazena seu bit de informação como carga no capacitor CS Quando nível lógico 1 o capacitor está carregado com VDD – Vt Quando nível lógico 0 o capacitor está descarregado à tensão de zero. Devidos aos efeitos de fuga do capacitor, sua carga vai se reduzindo Célula precisa ser regenerada peri- odicamente pela operação de restauração (refresh) Acontece a cada 5 a 10 ms ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

6 Operação da memória DRAM
ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

7 Operação da memória DRAM
Decodificador de linha eleva a tensão da linha de palavra de interesse Todos os transistores de acesso (Q) da linha selecionada passam a conduzir Todos os capacitores de armazenamento (CS) são conectados as suas respectivas linhas de bit Todos os capacitores são conectados em paralelo com a capacitância da linha (CB) CS é da ordem de 30 a 50 fF e CB é de 30 a 50 vezes maior que CS ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

8 Operação de Leitura DRAM (1)
Linha de bit é pré-carregada em VDD/2. Tensão inicial no capacitor é VCS VCS = VDD – Vt para nível lógico 1 VCS = 0 para nível lógico 0 Pela lei da conservação de cargas, tem-se: ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

9 Operação de Leitura DRAM (2)
Pode-se obter para ΔV Como CB >> CS ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

10 Operação de Leitura DRAM (3)
Para armazenamento do nível lógico 1, VCS = VDD – Vt Para armazenamento do nível lógico 1, VCS = 0 ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

11 Operação de Leitura DRAM (4)
Como CB é muito maior que CS, as tensões de leitura são muito pequenas Para CB = 30CS, VDD = 5V e Vt = 1,5V ΔV(1) = 33mV ΔV(0) = -83mV Considerando o melhor caso, pois VCS pode estar muito menor que VDD – Vt Pastilhas modernas o VDD é de 3,3V ou 1,2V ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

12 ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

13 Operação de Leitura DRAM (5)
O processo de leitura é destrutivo já que a tensão não será mais VDD – Vt ou 0. A variação da tensão na linha é detectada e amplificada pelo sensor da coluna O sinal amplificado é aplicado ao capacitor de armazenamento, restaurando o nível apropriado Simultaneamente o sinal amplificado é levado a linha de dados de saída da pastilha ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

14 Operação de Escrita DRAM (5)
Similar a operação de leitura (restauração do valor) O bit de dados que deve ser escrito está aplicado a linha de entrada de dados É aplicado a linha da palavra selecionada pelas linhas de coluna Caso o valor a ser escrito seja 1 Linha de coluna é elevada até VDD (CB = VDD) Quando transistor de acesso é ligado, capacitor CS é carregado até VDD – Vt Caso o valor a ser escrito seja 0 Linha de coluna é descarregada até VDD (CB = 0) Quando transistor de acesso é ligado, capacitor CS é descarregado até 0 ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

15 Restauração (Refresh)
Operação de leitura e escrita restauram automaticamente o valor armazenado em toda a linha selecionada Memória inteira deve ser restaurada entre 5 a 10ms Realizada em modo rajada (burst), uma linha por vez Durante o refresh não é possível realizar escrita o leitura Restaurar a pastilha inteira demora menos que 2% do tempo entre os ciclos de resturação 98% do tempo ela está disponível para operação normal ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

16 Problemas ELT017 - Circuitos Integrados Digitais

17 Problemas Exercício 11.10 Exercício 11.11 Problema 11.8
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