LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)1 Geração do programa de teste para uma carta com BST J. M. Martins Ferreira FEUP / DEEC - Rua dos Bragas Porto - PORTUGAL Tel / Fax: /

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)2 Objectivos Apresentar algumas questões práticas do BST através de um caso real Analisar a implementação do protocolo de teste, através do conjunto de instruções proposto Permitir aos alunos adquirir a experiência necessária para o desenvolvimento de pequenos programas de teste para situações específicas Permitir sessões práticas de laboratório

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)3 Conteúdo A carta de demonstração A informação necessária à geração do programa de teste Os vectores de teste O programa de teste

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)4 A carta de demonstração (diagrama de blocos)

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)5 Informação necessária para a verificação da infra-estrutura BST

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)6 Informação necessária para o teste das ligações completamente BST (1) Número e identificação das cadeias BST A ligação está ligada à massa ou a V CC ? Para os pinos de saída: –Número de pinos e localização da célula de saída, da célula de controlo (se existir) e do valor que coloca a saída em alta impedância Para os pinos de entrada: –Número de pinos e localização da célula de entrada

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)7 Informação necessária para o teste das ligações completamente BST(2) Para os pinos bidireccionais: –Número de pinos e localização da célula de saída, da célula de entrada, da célula de controlo e do valor que coloca a saída em alta impedância Para os pinos de entrada primária: –Número de pinos, identificação de cada um e do valor que coloca o seu canal de teste em alta impedância Para os pinos de saída primária : –Número de pinos e identificação de cada um

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)8 O grupo de componentes sem BST CI1 + CI2

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)9 Informação necessária para testar o grupo CI1 + CI2 (1)

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)10 Informação necessária para testar o grupo CI1 + CI2 (2) A aplicação HILO gerou cinco vectores de teste que detectam 100% das faltas nos pinos de ambos os componentes

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)11 O segundo grupo sem BST (CI6)

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)12 Informação necessária para testar o grupo CI6 (1)

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)13 Informação necessária para testar o grupo CI6 (2) A aplicação HILO gerou cinco vectores de teste que detectam 100% das faltas nos pinos de CI6

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)14 Informação necessária para o teste dos componentes BST

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)15 Os vectores de teste (paralelos) Uma versão modificada do algoritmo do auto- diagnóstico gerou seis vectores de teste para a completa detecção de curto-circuitos entre as 24 ligações completamente BST:

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)16 Os vectores de teste serializados

LEONARDO INSIGHT II / TAP-MM ASTEP - Geração do programa de teste para uma carta com BST © J. M. Martins Ferreira - Universidade do Porto (FEUP / DEEC)17 O programa de teste