Análise de placas eletrônicas com System8

Apresentação em tema: "Análise de placas eletrônicas com System8"— Transcrição da apresentação:

1 Análise de placas eletrônicas com System8
Aplicações com o System 8 Como o System8 pode ajudá-lo a testar e reparar suas placas?

2 Sobre o System 8 O SYSTEM 8 é um conjunto de ferramentas dedicados para testes, medidas, detecção de falhas em placas e componentes eletrônicos que possuam tecnologia analógica ou digital. Os equipamentos da linha System 8 são modulares e podem ser adquiridos de acordo com suas exigências e necessidades. As descrições de cada módulo encontram-se nos slides a seguir.

3 Módulos para testes de placas da linha System8

4 Módulo para testes Analógicos (AICT)
Características do Módulo AICT: Testes Funcionais de componentes Analógicos in-circuit Ex: LM339,MC1458,TL061A, AD817AN e outros. Testes funcionais de componentes discretos Ex: BD202,BFC45,2N5192,BC848 e outros. 24 canais para Análise de assinatura (V-I) Teste comparativo. 24 canais para Análise de assinatura Matrix (V-I) Teste Comparativo.

5 Módulo para testes Digitais (BFL)
Características do Módulo BFL: Teste Funcional de componentes Digitais in-circuit Ex: 74HC14,54HC00,ULN2065 e outros. Identificador de Circuitos Integrados. Teste de análise de assinatura. (Digital V-I) Gerador/Testador Lógico de até 256 canais. Verificador de Eprom Localizador de Curtos Fonte controlada de 5 VDC e 5A para testes em TTL

6 Módulo para testes Digitais Avançados (ATM)
Características do Módulo ATM: Teste Funcional de componentes Digitais in-circuit Ex: 74HC14,54HC00,ULN2065 e outros. Identificador de Circuitos Integrados. Teste de análise de assinatura. (Digital V-I) Capacidade de gerar, medir tensões e realizar teste V-I com até 2048 canais. Testes de componentes da família ECL. Localizador de Curtos Testes em nível de placa (Testes GO – NO GO).

7 Módulo de Múltiplos Instrumentos (MIS3)
Características do Módulo MIS3: Instrumentos padrões para análise de sinais: Osciloscópio,Multímetro Digital, Gerador de Funções, Frequencímetro. Fonte Auxiliar . Quatro canais analógicos I/O programáveis Quatro canais digitais I/O programáveis Customização de Instrumentos específicos

8 Módulo de Fonte (VPS) Características do Módulo VPS:
Fonte Fixa de 6V DC e 5A programável. Fonte Variável Positiva 0 a 24V e 1.5A. Fonte Variável Negativa 0 a -24V e 1.5A Fonte inteligente, trabalha em conjunto com outros módulos da ABI

9 Considere a seguinte (PCB)
Opções de testes com módulos da linha System8 Considere a seguinte (PCB) Como você pode testar e reparar uma placa utilizando o System 8?

10 Existem diversos tipos de testes que podem ser realizados
Clique no teste para ver a descrição ANÁLISE COM MATRIX V-I Análise profunda de assinatura de componentes para busca de falhas. TESTE COM GERADOR LÓGICO Geração de vetores para testes de CI’s digitais. TESTE FUNCIONAL DE COMPONENTE DISCRETO Verifique a funcionalidade de um componente discreto . ANALISE DE ASSINATURA DE COMPONENTES DISCRETOS (V-I) Detecte solda fria, e posições incorretas de capacitores e diodos. TESTE DE COMPARAÇÕES DE SINAIS Injete sinais e verifique a saída em diversos pontos da placa TESTE DINÂMICO DE SEMICONDUTORES V-T Testes de dispositivos de portas ativados com o modo de pulsos V-T TESTE CUSTOMIZADO Verifique o funcionamento de um relé através de instrumento personalizado TESTE FUNCIONAL ANALÓGICO Verifique a funcionalidade de circuitos analógicos in-circuit. FONTE Alimente sua placa e verifique o consumo de corrente. Existem diversos tipos de testes que podem ser realizados VERIFICADOR DE EPROM Faça a leitura do conteúdo de determinadas Eprom’s IDENTIFICAÇÃO DE CI’S Identificador de circuitos raspados. ANÁLISE DE ASSINATURA (V-I) Verifique a integridade do componente através da curva V-I LOCALIZADOR DE CURTOS Verifique curtos na placa. ANÁLISE DE SINAIS Realize medidas com instrumentos padrões. VERIFICADOR DE CI’S Verifique as conexões e curvas V-I de PLD’s. TESTE FUNCIONA DIGITAL Verifique a funcionalidade do CI através da tabela da verdade. TESTE DE PLACAS Leia, injete tensões ou realize o Teste V-I através de conectores de borda

11 Clique no teste para ver a descrição
ANÁLISE COM MATRIX V-I Análise profunda de assinatura de componentes para busca de falhas. TESTE COM GERADOR LÓGICO Geração de vetores para testes de CI’s digitais. TESTE FUNCIONAL DE COMPONENTE DISCRETO Verifique a funcionalidade de um componente discreto . ANALISE DE ASSINATURA DE COMPONENTES DISCRETOS (V-I) Detecte solda fria, e posições incorretas de capacitores e diodos. TESTE DE COMPARAÇÕES DE SINAIS Injete sinais e verifique a saída em diversos pontos da placa TESTE DINÂMICO DE SEMICONDUTORES V-T Testes de dispositivos de portas ativados com o modo de pulsos V-T TESTE CUSTOMIZADO Verifique o funcionamento de um relé através de instrumento personalizado TESTE FUNCIONAL ANALÓGICO Verifique a funcionalidade de circuitos analógicos in-circuit. FONTE Alimente sua placa e verifique o consumo de corrente. VERIFICADOR DE EPROM Faça a leitura do conteúdo de determinadas Eprom’s IDENTIFICAÇÃO DE CI’S Identificador de circuitos raspados. ANÁLISE DE ASSINATURA (V-I) Verifique a integridade do componente através da curva V-I LOCALIZADOR DE CURTOS Verifique curtos na placa. ANÁLISE DE SINAIS Realize medidas com instrumentos padrões. VERIFICADOR DE CI’S Verifique as conexões e curvas V-I de PLD’s. TESTE FUNCIONA DIGITAL Verifique a funcionalidade do CI através da tabela da verdade. TESTE DE PLACAS Leia, injete tensões ou realize o Teste V-I através de conectores de borda

12 TESTE FUNCIONAL ANALÓGICO Sistema requerido: AICT
Retornar para a placa de testes. O que é ? O teste funcional analógico utiliza a programação pré existente na biblioteca do módulo AICT para verificar a funcionalidade de um componente analógico. O teste é realiizado com a placa alimentada, não necessita retirar o componente da placa (teste in-circuit). Para que serve? Para verificar a funcionalidade de um circuito analógico sem retirá-lo da placa. O módulo analógico AICT monitora as conexões do circuito integrado para realização de um teste seguro. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Verificar a funcionalidade de um CI: pass () ou fail () Verificar se as interconexões estão corretas: abertos/curtos, links Verificar se as tensões estão corretas: tensões individuais em cada pino Revisar os resultados gerados: Janela de análise CARACTERÍSTICAS DO S TESTES: Testes em loop, loop falso e loop verdadeiro (para encontrar falhas intermitentes) Programas de teste padrão para dispositivos genéricos Apropriado para testes com encapsulamentos DIL e SOIC Sistema requerido: AICT

13 TESTE FUNCIONAL DE COMPONENTES DISCRETOS
Retornar para a placa de testes. O que é ? O teste funcional de componentes discretos utiliza uma programação pré existente na biblioteca do equipamento para verificar a funcionalidade de um dispositivo discreto analógico. Não necessita retirar o componente da placa para testá-lo. O teste é realizado com a placa desligada. Para que serve? Verificar a funcionalidade de um componente discreto ( ex.: Transistores e diodos) sem retirá-lo da placa. O módulo analógico monitora as conexões do dispositivo para realização de um teste seguro. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Testar um componente discreto: pass () ou fail () Verificar se as interconexões estão corretas : abertos/ curtos, links Verificar cada terminal do componente: emissor, coletor etc. Revisar os resultados gerados: Janela de análise CARACTERÍSTICAS DOS TESTES Teste em loop, loop falso e loop verdadeiro (falhas intermitentes) Programas de teste padrão para dispositivos genéricos Apropriado para testes de dispositivos DIL e SOIC Sistema requerido: AICT

14 Sistema Requerido : AICT
ANÁLISE (V-I) PARA COMPONENTES DISCRETOS Retornar para a placa de testes. O que é ? Análise de assinatura tem como objetivo medir a resposta em corrente de um dispositivo quando colocado sobre uma tensão alternada (AC). É um teste realizado com a placa desligada utilizando geralmente o terra como referência. Para que serve? Para analisar graficamente se a estrutura do componente está danificada, sem a necessidade de alimentá-lo ou retirá-lo da placa. Nas figuras abaixo temos exemplos de curvas V-I de componentes discretos. VOCÊ PODE UTILIZAR ESTA TÉCNICA PARA: Verificar componentes invertidos : valor errado Verificar integridade física de componentes: Componente danificado Comparar curvas V-I entre componentes: Não precisa conhecer a funcionalidade do componente Testar placas em curto : Não tem a necessidade de alimentar a placa CARACTERÍSTICAS DOS TESTES: Comparação simultânea de componentes. Alerta de áudio quando ocorre alguma falha Visualização de tolerância da curva V-I Frequencia, tensão, impedäncia, e formas de ondas ajustáveis Sistema Requerido : AICT

15 Sistema Requerido: AICT
ANÁLISE DE ASSINATURA (V-I) Retornar para a placa de testes. O que é? ? Análise de assinatura tem como objetivo medir a resposta em corrente de um dispositivo quando colocado sobre uma tensão alternada (AC). É um teste realizado com a placa desligada utilizando geralmente o terra como referência. Para que serve? Para determinar a integridade física de um componente sem retirá-lo da placa. Na figura abaixo as curvas V-I de um CI de 14 pinos. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Verificar se o componente foi montado invertido Verificar integridade física de componentes: Componente danificado Comparação de curvas V-I: Utilizando a função store Testar placas em curto : Não tem a necessidade de alimentar a placa para realizar o teste V-I. CARACTERÍSTICAS DOS TESTES: Economia de tempo utilizando clipes de teste ao invés de probes individuais. Alerta de áudio quando ocorre alguma falha. Visualização de tolerâncias das curvas V-I Frequencia, tensão, impedância, e formas de ondas ajustáveis. Sistema Requerido: AICT

16 Sistema Requerido: AICT
ANÁLISE COM MATRIX (V-I) Retornar para a placa de testes. O que é ? Matrix V-I é um teste comparativo realizado com a placa desligada, e tem como objetivo medir a resposta em corrente de um dispositivo quando colocado sobre uma tensão alternada (AC). Esse tipo de teste utiliza o próprio pino de um CI como referência ao invés do terra, desta maneira teremos por exemplo, uma análise V-I mais profunda de um circuito integrado. Para que serve ? Realizar uma análise V-I mais profunda de um dispositivo sem a necessidade de retirar o componente da placa. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Verificar se o componente está invertido na placa Verificar integridade dos componentes: Componente danificado Realizar teste comparativo simultâneo Testar uma placa em curto: sem a necessidade de alimentar a placa ou usar o terra como referência para testes. CARACTERÍSTICAS DOS TESTES Armazenar as curvas adquiridas para futuras comparações Ajustes de tolerâncias da máscara de comparação Frequência, tensão, impedância e formas de ondas ajustáveis Adaptador para testes do componentes SMD’s PTH e PLCC. Sistema Requerido: AICT

17 Sistema Requerido: AICT
TESTE DINÂMICO DE SEMICONDUTORES Retornar para a placa de testes. O que é ? Com o teste diâmico de semicondutores conseguimos verificar se as portas de um SCR, por exemplo, estão sendo ativadas de maneira correta. Nesse teste é aplicada uma tensão variável entre dois nós, e um pulso no pino de trigger de um SCR. Quando o dispositivo é ativado, o sinal torna-se um curto, formando um dente de serra na forma de onda. Para que serve ? O teste dinâmico verifica a ativação de um gate de um dispositivo, por exemplo, sem a necessidade de alimentar a placa. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA : Verificar a ativação do gate de um dispositivo. Verificar o nível de ativação : verificar se está sendo ativado com a tensão correta. CARACTERÍSTICAS DOS TESTES Amplitude do pulso positivo e negativo ajustáveis Tempo do pulso ajustável Armazenagem dos resultados para futuras comparações Sistema Requerido: AICT

18 Sistema Requerido : ATM
TESTE FUNCIONAL DE PLACAS Retornar para a placa de testes. O que é ? O teste funcional de placas é uma combinação de testes de análise de assinatura V-I e medidas ou geração de tensões para entradas ou saídas de conectores de borda ou através de utilização de cama de prego. Para que serve? Para verificar se uma placa eletrônica está funcionando por completa. Teste GO NOGO VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA : Testar uma placa por completo Localizar a área do defeito rapidamente Executar testes em loop para verificar o funcionamento das placas CARACTERÍSTICAS DOS TESTES Testes com até 2048 canais Canal configurado como drive, medidas de tensão e V-I. Fácil configuração Armazena os resultados para futuras comparações Sistema Requerido : ATM

19 Sistema Requerido: MIS3
ANÁLISE DE SINAIS Retornar para a placa de testes. O que é ? Análise de sinais é realizado através de instrumentos padrões (Osciloscópio, multímetro, gerador de funções e frequencímetro) para aquisições de medidas de uma placa ou componente eletrônico. Para que serve ? Para verificar os valores e especificações de um componente eletrônico. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Verificar a validade do sinal: Sinal de clock ou valor tensão ou corrente Verificar o valor de um componente: resistência Gerar tensões analógicas ou sinais TTL CARACTERÍSTICAS DOS TESTES Instrumentos customizáveis ( Crie o instrumento que você precisa) Máscara de comparação de sinais Calculadora (Utilize a calculadora para funções matemáticas) Data logging Sistema Requerido: MIS3

20 Sistema Requerido: BFL / ATM
TESTE FUNCIONAL DIGITAL Retornar para a placa de testes. O que é ? O teste funcional digital permite que um circuito integrado digital seja testado sem a necessidade de retirá-lo da placa. Esse teste verifica a tabela da verdade do circuito integrado, sendo que, essa tabela da verdade fica armazenada na biblioteca dos equipamentos da linha System8. Para que serve ? Para verificar a funcionalidade de um circuito integrado sem retirá-lo da placa. O módulo BFL e ATM monitoram as conexões do circuito integrado para realização de um teste seguro. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Verificar a funcionalidade de um CI: pass () ou fail () Verificar se as interconexões estão corretas: abertos/curtos, links. Verificar se as tensões estão corretas: tensões individuais em cada pino. Revisar os resultados gerados: Janela de análise Sistema Requerido: BFL / ATM

21 Sistema Requerido: BFL ou ATM
VERIFICADOR DE CI Retornar para a placa de testes. O que é ? Trata-se de um teste comparativo, permitindo que as conexões de um circuito integrado, além das análises de assinatura (V-I) de cada terminal sejam comparadas com uma máscara criada anteriormente. Para que serve ? Para comparar dados adquiridos entre placas e circuitos integrados. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Verificr se um CI está conectado corretamente: abertos,curtols,links Verificar se as entradas e saídas de um circuito integrado estão danificados através do teste V-I Teste de um dispositivo desconhecido CARACTERÍSTICAS DOS TESTES Loop, Loop falso, loop verdadeiro Pode ser utilizado para testes de conectores de borda Utilizado também para testes DIL, SOIC, PLCC e QFP Sistema Requerido: BFL ou ATM

22 Sistema Requerido: BFL ou ATM
LOCALIZADOR DE CURTOS Retornar para a placa de testes. O que é ? O localizador de curto é utilizado para medir precisamente a impedância entre dois nós em uma placa. Para que serve ? Para determinar a impedância de uma trilha ou localizar um curto na placa. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Determinar a localização de um curto Determinar a característica de uma trilha Verificar a continuidade entre dois pontos CARACTERÍSTICAS DOS TESTES Alerta de áudio dependendo da proximidade do curto Medida de impedância de até 0.1 OHM. Três níveis de impedância selecionáveis Sistema Requerido: BFL ou ATM

23 Sistema Requerido: VPS
FONTE DE ALIMENTAÇÃO Retornar para a placa de testes. O que é ? A fonte de alimentação da linha System 8 é configurável, oferecendo saídas negativas e positivas essenciais para processos de análise de falhas em placas e componentes. Pra que serve ? A fonte do equipamento da linha System8 é utilizada para desenvolvimentos de Test Flow. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSE MÓDULO PARA: Alimentar uma placa Verificar o consumo de uma placa. Sistema Requerido: VPS

24 Sistema Requerido: BFL ou ATM
TESTADOR/GERADOR LÓGICO Retornar para a placa de testes. O que é ? O gerador/testador lógico utiliza uma combinação de sequências lógicas para injetá-los na entrada de uma placa ou circuito integrado e automaticamente medir os padrões de respostas na saída. Para que serve ? Gerar sua própria sequência de testes para circuitos integrados ou placas dedicadas e aprender a lógica gerada por uma placa, por exemplo. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Realizar um teste customizado de um CI Testar lógicas de placas ou CI’s por partes. Realizar o teste digital de uma placa. CARACTERÍSTICAS DOS TESTES Função Auto Learn Saída variável para drive (ATM module) Ajustes de limiar de tensões Indicação visual de falhas Sistema Requerido: BFL ou ATM

25 Sistema Requerido: BFL ou ATM
IDENTIFICADOR DE CI Retornar para a placa de testes. O que é ? O identificador de circuitos integrados utiliza uma algorítimo de testes que permite que um componente digital seja identificado, determinando assim o número de referência do CI. Para que serve ? Para determinar o part number equivalente de circutitos integrados raspados ou ilegíveis. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Determinar a referência de um circuito integrado Testar circuitos digitais funcionalmente Encontrar opções de circuitos integrados equivalentes. CARACTERÍSTICAS DOS TESTES A verificação pode ser in-circuit ou out-circuit Sistema Requerido: BFL ou ATM

26 Sistema Requerido: BFL
VERIFICADOR DE EEPROM Retornar para a placa de testes. O que é ? O verificador de Eeprom lê o conteúdo de uma EPROM e retorna o resultado em tela. Para que serve ? Para verificar se EPROMs do mesmo modelo possuem os mesmos conteúdos. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Ler o conteúdo de uma EPROM Fazer o teste comparativo de conteúdo com outra EPROM Verificar se a EPROM não está em branco CARACTERÍSTICAS DOS TESTES: Testes realizados In-circuit e out-circuit Salve os conteúdos adquiridos no computador. Sistema Requerido: BFL

27 Sistema Requerido: MIS3
TESTES CUSTOMIZADOS Retornar para a placa de testes. O que é ? Um teste customizado é utilizado para verificar os aspectos específicos de um componente utilizando os instrumentos padrões da linha System8. Instrumentos customizados podem ser criados e salvos a qualquer momento. Para que serve ? Para construir novos instrumentos de testes que não estão disponíveis, acelerando assim o processo de análise de falhas. O teste abaixo verifica por exemplo a funcionalidade de um relé. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Testar componentes rapidamente Criar instrumentos específicos para componentes específicos. CARACTERÍSTICAS TÉCNICAS Salve e compartilhe os instrumentos customizados Integrar os instrumentos customizados em sequências de testes. Sistema Requerido: MIS3

28 Sistema Requerido: MIS3
TESTES DE COMPARAÇÕES DE SINAIS Retornar para a placa de testes. O que é ? O teste de comparações de sinais injeta uma forma de onda AC signal em um componente ou em um test point. O sinal de saída é monitorado para verificar alterações. Para que serve? Para verificar a resposta de um componente quando colocado a um sinal AC. VOCÊ PODE UTILIZAR ESSA TÉCNICA PARA: Observar a amplitude e variações do sinal Verificar se há mudanças de fases. Verificar alterações de frequência Verificar a resposta de um componente através de uma determinada entrada CARACTERÍSTICAS DOS TESTES: Medidas automáticas Parâmetros ajustáveis no gerador de funções Varredura de frequência automática Integrar instrumentos customizados as sequências de testes Sistema Requerido: MIS3