Desenvolvimento da técnica de fluorescência de raios X com Desenvolvimento de Métodos e Técnicas Analíticas e Nucleares - DVTEC Desenvolvimento da técnica de fluorescência de raios X com microssonda (m-XRF) Doutorando: Richard Maximiliano da Cunha e Silva Orientador: Virgílio Franco da Nascimento Filho Laboratório de Instrumentação Nuclear - 2000 LIN

ED-XRF implantada março/1990 a abril/1994 Justificativa ED-XRF implantada março/1990 a abril/1994 TXRF implantada maio/1995 a julho/1998 O presente trabalho tem como objetivo principal desenvolver a variante de -XRF e suas aplicabilidades na análise de vários elementos em amostras de interesse agropecuário, agroindustrial, ambiental e arqueológico 2000 LIN

O que é fluorescência de raios X? 2000 LIN

É uma análise multielementar instrumental baseada na medida das intensidades dos raios X característicos emitidos pelos elementos químicos componentes na amostra 2000 LIN

Fluorescência de raios X Amostra Representação da Fluorescência de raios X Detector Emissão Fonte Excitação I = C.S.A S = G.t.(1-1/j).w.f.e 2000 LIN

Programa AXIL 2000 LIN

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Elementos que podem ser detectados: Tubo : Mo - 17,4 keV(Ka) (Z=39) W - 8,4 keV (La) (Z=28) Fontes: Fe-55 - 5,9 keV (Z=23) Pu-238 - 13,8 keV (Z=35) 2000 LIN

Análise por fluorescência de raios X WD-XRF ED-XRF TXRF m-XRF 2000 LIN

Técnicas de fluorescência de raios X WD-XRF: análise seqüencial; equipamento caro ED-XRF: análise simultânea; equipamento barato 2000 LIN

Variantes da fluorescência de raios X por dispersão em energia 2000 LIN

Laboratório de fluorescência de raios X 2000 LIN

Laboratório de fluorescência de raios X 2000 LIN

Mesa 2000 LIN

Capilares Reto Cônico Elíptico 2000 LIN

Aplicações 2000 LIN

Aplicações 2000 LIN

Aplicações 2000 LIN

Aplicações 2000 LIN

Aplicações B. Holynska, J. Ptasinski, W. Maenhaut and H.J. Annegarn Energy-dispersive X-ray fluorescence spectrometer with capillary optics for for the chemical analysis of atmospheric aerosols with high time resolution B. Holynska, J. Ptasinski, W. Maenhaut and H.J. Annegarn 2000 LIN

Aplicações 2000 LIN

Equação fundamental da FRX Análise de elementos minoritários em alumínio pela técnica de fluorescência de raios X por dispersão em energia (ED-XRF), empregando a equação dos parâmetros fundamentais 2000 LIN

Equação fundamental da FRX Material Fonte de Pu-238 (3,7 GBq, U La = 13,8 keV), espectrômetro de raios X multicanal, detector semicondutor de Si(Li), aplicativo AXIL, quatro padrões finos produzidos pela MicroMatter, EUA, de Mn, Zn, Fe e Cu, 2000 LIN

Equação fundamental da FRX Amostras padrões 2000 LIN

Equação fundamental da FRX Resultados 2000 LIN

Equação fundamental da FRX Conclusão Vantagem: de necessitar de poucos padrões Desvantagem: a determinação dos fatores de absorção 2000 LIN

técnica não destrutiva, Conclusão da ED-XRF técnica não destrutiva, pequeno número de linhas no espectro de raios X, análise simultânea, não há necessidade de pré tratamento químico (TXRF), alta velocidade analítica, equipamento barato e baixo custo das análises . Vantagens Desvantagem para análise quantitativas requer métodos de correção para o efeito matriz. 2000 LIN