Caio Ramos Alexandre Coelho

Apresentação em tema: "Caio Ramos Alexandre Coelho"— Transcrição da apresentação:

1 Caio Ramos Alexandre Coelho
Boundary Scan IEEE Caio Ramos Alexandre Coelho

2 INTRODUÇÃO Introdução Motivação e História. Norma IEEE 1149.1
Arquitetura Boundary Scan Estudo de Caso AMD GEODE

3 INTRODUÇÃO Testes de Power-on and Power-off;
Desde meados de 1970, testes estruturais em PCBs eram feitos apenas com o uso da técnica “bed-of-nails”. O Teste é baseado em duas fases e tem como objetivos checar a presença, orientação e ligação dos dispositivos presentes na placa. Testes de Power-on and Power-off; Teste baseado em impedância;

4 INTRODUÇÃO

5 MOTIVAÇÃO Avanços na área de VLSI (ASICs);
Motivação para o Boundary Scan: Avanços na área de VLSI (ASICs); Altas densidades dos dispositivos; Miniatuarização nos encapsulamentos; Multi-Layer Boards; Redução do acesso físico; Qualidade dos Testes; Necessidade de contruir acesso dentro dos dispositivos (boundary scan register); Etc...

6 HISTÓRIA boundary scan register
Em 1985 um grupo de empresas européias de sistemas eletrônicos, formaram o “Joint European Test Action Group” (JETAG); O método escolhido pelo grupo era o de acessar os pinos dos devices por meio de um “serial shift register” interno através dos limites dos dispositivos boundary scan register

7 HISTÓRIA Em 1988 com a entrada da América do Norte formaram o “Joint Test Access Group” (JTAG); Em 1990, o IEEE refinou o conceito e criou a norma standard, conhecida como: IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture.

8 Boundary Scan (BS) Boundary Scan é uma metodologia que permite completa controlabilidade e observabilidade dos pinos de dispositivos JTAG compatíveis sendo estes controlados por software. Permite acesso direto às entradas e saídas dos chips na placa. Forma uma “scan chain” a nível de placa.

9 Boundary Scan (BS)

10 Boudary Scan Arquitetura

11 IEEE 1149.1 Várias correções e melhorias;
Primeira publicação em 1990, revisada em 1993, 1994 e mais recente em 2001. Revisão a-1993 Várias correções e melhorias; Foi introduzido duas novas instruções; Revisão b-1994 Boundary-Scan Descripton Language(BSDL).

12 IEEE Revisão Remove uso dos 0s obrigatórios para instruções Extest (Testar curtos e abertos); Sample/Preload foi separada em duas instruções; Preload e Sample continuam mandatórios (Carregar e descarregar a cadeia);

13 BSDL Boundary Scan Description Language é um subconjunto de VHDL, usado para descrever como o JTAG é implementado. Descrição da entidade Parâmetros genéricos Descrição das portas lógicas Comando dos pinos Identificação das portas scan Descrição dos registradores(Intruções, Acesso e Boundary).

14 DFT Métodos ad-hoc Métodos estruturados Scan Boundary Scan
DFT (Design For Testability) refere-se às técnicas de projeto que tornam a geração e aplicação de teste efetivos . Métodos de DFT para circuitos digitais Métodos ad-hoc Métodos estruturados Scan Boundary Scan Built-in self-test(BIST)

15 Layout Scan

16 DFT IMPACTOS NO TIME-TO-MARKET
Tempo de Design Acresscimo de % Regras de DFT e ATPG Ajuda a encontrar erros de design Tempo de desenvolvimento de Testes Redução de % Benefícios Adicionais Redução de tempo de Debug e do Bring-up Custo com teste de analógicos apagaram o ganho com a redução do custo de testes em digitais Arquiteturas de novas tecnologias para testar analógicos de um AMS, principalmente RF.

17 NORMA IEEE TEMPO REAL A norma IEEE possibilita o teste da integridade estrutural de uma placa. Possibilita os testes dos CI enquanto estão em um modo não funcional. Não pode ser utilizado efetivamente para os testes de CI durante o funcionamento normal dos mesmos. A norma permite ao registrador “boundary scan” reter uma amostra do fluxo de dados. Não sincroniza depuração em RT e sua execução com a operação do CI teste. Custo com teste de analógicos apagaram o ganho com a redução do custo de testes em digitais Arquiteturas de novas tecnologias para testar analógicos de um AMS, principalmente RF.

18 NORMA IEEE 1149.1 TEMPO REAL DBM (Digital Bus Monitor);
Abordagens que contemplam depuração em TR é implementada pelos circuitos abaixo: DBM (Digital Bus Monitor); Desenvolvido em 1991 Memoria para armazenamento MicroSpy Custo com teste de analógicos apagaram o ganho com a redução do custo de testes em digitais Arquiteturas de novas tecnologias para testar analógicos de um AMS, principalmente RF.

19 NORMA IEEE 1149.1 TEMPO REAL DBM (Digital Bus Monitor)
Custo com teste de analógicos apagaram o ganho com a redução do custo de testes em digitais Arquiteturas de novas tecnologias para testar analógicos de um AMS, principalmente RF.

20 NORMA IEEE 1149.1 TEMPO REAL MicroSpy
Custo com teste de analógicos apagaram o ganho com a redução do custo de testes em digitais Arquiteturas de novas tecnologias para testar analógicos de um AMS, principalmente RF.

21 Arquitetura A arquitetura de teste deve conter:
Test Access Port (TAP); Controlador TAP; Registrador de Instrução; Registradores de dados de teste. Boundary-scan e bypass Os registradores de instrução e de dados devem ser paralelos e terem entradas e saídas comuns; A escolha entre o registrador de instrução e dados é feita através do controlador TAP.

22 Arquitetura Circuito Integrado

23 Arquitetura Placa

24 Modos de Interconexão O TAP pode ser conectado a nível de placa de uma maneira apropriada para cada produto; O dispositivo bus master deve possibilitar essa conexão.

25 Modos de Interconexão

26 Modos de Interconexão

27 Test Access Port Deve incluir, pelo menos, os seguintes sinais:
TCK (Test Clock) TDI (Test Data Input) TMS (Test Mode Select) TDO (Test Data Output) Pode conter um sinal adicional: TRST (Test Reset) Todos devem ser conexões exclusivas.

28 Test Access Port TCK (Test Clock)
Clock dedicado, independente do clock do sistema; A freqüência do clock deve ser suportada pelos componentes que compõem o sistema de teste. Stored-state devices (flip-flop, latches) devem guardar o valor quando o clock estiver em zero; O driver de clock deve suportar a carga;

29 Test Access Port TDI (Test Data Input)
Os sinais são amostrados na borda de subida do clock; Recomendação de pull-up, pois o driver não pode ficar flutuando, mas deve manter lógica 1. TDO (Test Data Output) Os sinais são amostrados na borda de descida do clock; Deve estar inativo quando nenhum dado estiver sendo lindo para permitir conexões paralelas a nível de placa.

30 Test Access Port TMS (Test Mode Select)
Os sinais são amostrados na borda de subida do clock; Recomendação de pull-up, pois o driver não pode ficar flutuando, mas deve manter lógica 1; O driver deve suportar a carga. TRST (Test Reset) Inicialização assíncrona do controlador TAP; Ativo baixo; Um pull-up é recomendado; TMS deve estar alto quando o sinal do TRST mudar de 0 para 1.

31 Test Access Port

32 Controlador TAP O controlador TAP é uma máquina de estados finita que responde por variações nos sinais de TCK e TMS. Ela controla os estados do circuito de teste. As transições de estado ocorrem baseadas no valor do TMS durante a borda de subida do TCK. Ou quando ocorrer o reset (TRST) ou power up. O controlador TAP deve gerar os sinais para controlar a operação dos outros circuitos envolvidos no teste, como: registradores de instrução, registradores de dados de teste, etc.

33 Controlador TAP

34 Controlador TAP

35 Controlador TAP

36 Registrador de Instrução
Existem instruções requeridas e outras opcionais definidas pelo padrão; Instruções específicas de cada design podem ser definidas;

37 Instruções

38 Instruções

39 Instruções

40 Registradores de Dados de Teste
São no mínimo 2: Bypass Permite a passagem do bit através do circuito de teste. Boundary-scan Permite a detecção de problemas nas placas, como curtos, trilhas abertas, etc; Também permite acesso para os pinos de entrada e saída dos componentes. Um terceiro também é definido, sendo opcional Device identification Permite a identificação dos dispositivos na placa. Outros podem ser definidos para permitir demais testes definidos no design.

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42 Registrador de Identificação
Registrador de 32 bits; Selecionado pela instrução Idcode; Idcode é a primeira instrução executada quando é ligado se o registrador de instrução existir. Se não, bypass é executada.

43 Exemplo – AMD Geode O Geode LX e Companion possui um controlador TAP IEEE compliant; O controle da CPU pode ser obtido através da interface JTAG; Registros internos, incluindo os do core da CPU podem ser acessados; Memory BIST é implementado e pode ser executado a partir da JTAG; No Geode LX o registrador de instrução possui 25 bits; No Companion o registrador de instrução possui 24 bits.

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45 Exemplo – AMD Geode LX

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47 Exemplo – AMD Companion

48 Bibliografia [1] intertech.com/Videos/DFT%20Guidelines/DFT%2 0Guidelines%20Flash.html [2] IEEE Standard Test Access Port andBoundary-Scan Architecture [3] Proc. IEEE Int'l Test Conf , IEEE Computer Society Press, Los Alamitos, Calif.,Oct [4] PRoc. IEEEInt'l Test Conf , CS Press, Oct.1994. [5] IEEEStd , Test Access Portand Boundary-Scan Architecture, IEEE, Piscataway, N.J., Jan

49 Bibliografia [6] Lee Whetse. AN IEEE BASED LOGIC/SIGNATURE ANALYZER IN A CHIP [7] Jeff Rearick. IJATG(Internal JTAG): A Step Toward a DFT Standart. [8] Cheng-Wen Wu. Design for Testability [9] Bennets R. G. Boundary Scan Tutorial [10] J.M. Martins Ferreira. Introdução à arquitetura IEEE [11] ASSERT, INC. Guidelines for Board Desing For Test Based on Boundary Scan

50 Bibliografia [12] Texas Instruments, INC. JTAG/IEEE Desing Consideration [13] STARTEST, INC. IEEE Device Architecture [14] M. A. Alexandre, G. Fernando Moraes. Inegração de Técnicas de Teste de Hardware no Fluxo de Projetos de SOCs [15] Eduardo Bezerra, UFRGS. Relatório Técnico de Testes de Sistemas Digitais [16] J. Smith Michael. Undestanding DFT Methodologies

51 Bibliografia [17] A. Schwantes. Teste e Depuração Tempo Real de Sistemas Eletrônicos Baseados na Infraestrutura Boundary Scan. [18] CORELIS, INC. Scan_Tutorial.htm [19] Wang Jiang Chau. Teste e testabilidade de CIS Digitais baseado em DFT-Scan [20] Kenneth P. Parker. The Boudary Scan-Handbook, 3rd edition (June 2003) [21] AMD Geode™ LX Processors Preliminary Data Book [22] AMD Geode™ CS5536 Companion Device Preliminary Data Book