Fabricação de nanoestruturas

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Transcrição da apresentação:

Fabricação de nanoestruturas Parte II Prof. Dr. Antonio Carlos Seabra Dep. Eng. de Sistemas Eletrônicos Escola Politécnica da USP acseabra@lsi.usp.br

Litografia Top-Down Litografia na Indústria de CIs Litografia Óptica Litografia por Raios-X Apresentações em ftp://ftp.cat.cbpf.br/publico/sampaio/ Litografia Top-Down para Nanotecnologia Aplicações

Litografia por Raios-X Hoje CAD Escrita Direta Nanocarimbos Nanotecnologia Máscara(s) Litografia Óptica Litografia por Raios-X

Onde se situa a Nanotecnologia? Mecânica Quântica Luz Visível MEMS Glóbulo Vermelho Nanoescala 0,1 mm 105 104 103 100 10 1 0,1 Nanômetros Diâmetro de um Nanotubo de Carbono Diâmetro Atômico Moléculas Orgânicas Microchips Vírus Bactérias Diâmetro do Cabelo Humano

Litografia Top-Down para Nanotecnologia Não precisa de 35 níveis Não precisa ter a mesma produtividade Precisa ter resolução na faixa 10-100nm Precisa ter capacidade de alinhamento para apenas 2- 3 níveis

Litografia Top-Down para Nanotecnologia Em quê ela pode contribuir com estruturas auto- formadas (bottom-up)? Posicionamento em locais pré-definidos Fabricação de estruturas com qualquer geometria (2D-3D) Fabricação de estruturas em qualquer material Possibilita o acesso ao mundo exterior (realizando conexões e nanoconexões) Combinada com estruturas auto-formadas cria um enorme potencial inovativo em pesquisa e novos produtos

Nanoconexões Estruturas protéicas (Microtúbulos) conectadas por nanofios.10

Litografia Top-Down para Nanotecnologia

Litografia Top-Down para Nanotecnologia Principais técnicas litográficas (top-down) para aplicação em nanotecnologia Feixe de elétrons Raios-X (EUV) Feixe de Íons Holografia Nanoimpressão Varredura de Sonda (SPL ou PPL) Litografia óptica!

Litografia Top-Down para Nanotecnologia Litografia por Feixe de Elétrons Fonte Abertura com geometria Pré-formatada

Litografia por feixe de elétrons Afinal, é um microscópio eletrônico de varredura? Eletrostáticas (10-100ns) 16bits 0,1nm capacidade de endereçamento 4”,6”,8” 2nm~0,5nm capacidade de posicionamento

Litografia por Feixe de Elétrons Difração não limita a resolução Resolução depende basicamente do diâmetro do feixe, ~5nm Aplicações Escrita direta (inclusive para fabricação de máscaras) Pesquisa Prototipagem Projeção (stepper) Limitações Serial, produtividade adequada para pequenas séries e pesquisa Efeito de proximidade Opera em alto vácuo (10-6 ~10-10 torr)

Limitação da Resolução Para aumentar a resolução: M , Vb , DE , f e  a? (dv = tamanho da fonte, M = desmagnificação) (Cs = aber. esférica, a = ângulo de conv.) (Cs a distância focal  distância de trabalho) (Cc = aber. cromática, DE = esp. de Energia do feixe, Vb = tensão de acel.) Vb = 30kV, l = 0,08nm

Fonte de Elétrons

Efeito de Proximidade Espalhamento de Elétrons no Resiste e no Substrato “b” “a”

Efeito de Proximidade Pode ser modelado por uma dupla gaussiana: Em geral uma matriz de 50.000 x 50.000 pontos

Efeito de Proximidade Substrato de Silício e resiste PMMA de 0,5 µm de espessura  = 0.75 (independente da energia do feixe) keV = 11 / 15 / 20 / 25 / 30 / 35 = 0.9 / 1.4 / 2.2 / 2.8 / 4.0 / 5.8 Substrato de GaAs e resiste PMMA de 0,5 µm de espessura  = 1.4 (independente da energia do feixe) keV = 15 / 20 / 25 / 30 / 35 / 39 = 0.7 / 1.0 / 1.3 / 1.8 / 2.2 / 2.6

Distribuição de Energia Considerando o Efeito de Proximidade PMMA = 400nm Si = 40mm PMMA = 400nm Nb = 20nm Si = 40mm Função delta de Dirac Convolução com feixe gaussiano de 50nm Interface Superfície

Efeito de Proximidade Parâmetros de Efeito de Proximidade: a, b, h

Microsquids em Filmes Magnéticos Linhas de 50nm x 10um * Trabalho conjunto IFUSP-EPUSP-CBPF

Estratégias para minimizar o efeito de proximidade Utilize resistes finos Utilize substratos finos Ajuste a tensão de aceleração Divida a geometria em sub-estruturas com doses diferentes

Litografia por Feixe de Ions Como LFE, LFI pode ser utilizada para escrita direta

Litografia por Feixe de Ions Características principais Menos sujeita à retroespalhamento (massas maiores) Resistes para LFI são mais sensíveis Maiores energias que LFE Melhor resolução e produtividade Dificuldades Fontes de íons menos confiáveis Mais difícil de focalizar Menor profundidade de penetração (30nm ~ 500nm) Implantador Iônico de baixa energia!

Litografia por Holografia Aplicação imediata em cristais fotônicos (Scheneider, 2004) Redes fabricadas em filmes de Al Posição relativa das três redes para gerar o padrão de interferência Exposição laser Nd:YAG (355nm) Estruturas (4108) resultantes no resiste sobre a superfície (LFE = 25108 ) Excelente resolução e profundidade de foco

Litografia por Holografia Combinação com litografia por feixe de elétrons… Adicionar estruturas com geometrias específicas Guias de Onda Ressonadores

Lift-off Processo Tradicional Lift-off Deposições Deposições de resiste 2 resiste 1 substrato Deposições resiste metal substrato Deposições de metal e resiste resiste 2 resiste 1 substrato Escrita Direta resiste metal substrato Exposição do resiste 1 substrato resiste 2 Revelação 1 resiste 1 substrato resiste 2 Revelação 2 metal substrato Revelação do resiste substrato metal Úmida Corrosão Seca metal Deposição metal Lift-off 10nm!

Lift-off e evaporação inclinada (com sombras) Vista de Topo: Resiste Evaporação: 1.Nb 1. 2.Al 2. 3.Nb 3. +AlOx SET Nb/AlOx/Nb

Processos de Máscara Embutida (BIM) Sililação resiste 2 substrato Deposição Escrita Direta substrato resiste 2 substrato resiste 2 Sililação HMDS Revelação Seca substrato resiste 2

Nanoimpressão (nanocarimbos) Nanoimpressão é um tipo de impressão por contato onde as geometrias são geradas por deformação/transformação física ao invés de reações fotoquímicas Potencial Produtividade Resolução Dificuldades Defeitos Pouca capacidade de alinhamento

Nanoimpressão por Microcontato

Nanoimpressão por Microcontato

Nanoimpressão por Microcontato

Litografia por Nanoimpressão (NIL)

Resultados por Nanoimpressão Estruturas 3D Linhas de 50nm

Litografia de Impressão por Passo e Flash (SFIL)

Nanoimpressão SFIL (Resnick, 2003)

As três Técnicas Principais de Nanoimpressão

Litografia por Varredura de Sonda AFM, STM Arraste Pinçagem (Eigler, 1990) Exposição Dip-pen (Mirkin, 1999)

No Brasil Litografia por Feixe de Elétrons Holografia Cenpra (feixe gaussiano, ~100nm, escrita direta?) CCS-UNICAMP (feixe moldado, ~300nm) Holografia Profa. Lucila Cescatto (IFGW-Unicamp) Microscópio Eletrônicos de Varredura Adaptados IME-Rio USP DEMA-UFSC UFMG UFPE

No Brasil Nanocarimbos e Nanoimpressão Gerar o carimbo! Litografia por peixe de elétrons Estamos (LSI-USP) em estágio inicial Aquisição de materiais, elaboração de projetos Desconheço outros grupos

Litografia Top-Down Litografia na Indústria de CIs Litografia Óptica Litografia por Raios-X Litografia por Feixe de Elétrons Litografia Top-Down para Nanotecnologia Aplicações

Explorar novas aplicações para: No Temático Fapesp Explorar novas aplicações para: Estudo de fenômenos básicos (mecanismos de transporte em nanoestruturas, etc) Reduzir as dimensões até agora alcançadas Acredito que isso possa ser feito em conjunto Nanodeposição?

No Temático Fapesp Aplicações

No Temático Fapesp Aplicações

A deposição na indústria de CIs

Técnicas de Deposição Deposição química em fase de vapor CVD Atmosférico Baixa Pressão Par Fria Par Quente Tubo PQ PECVD Vertical P. Paralelas Remoto

Técnicas de Deposição Tradicional Evaporação Sputtering Deposição química em fase de vapor (CVD) Em todas as regiões (camada homogênea) Seletiva (em plugues) substrato Deposição resiste Lift-off metal metal substrato Revelação do resiste Corrosão Úmida Seca Tradicional

Técnicas de Deposição Deposição química em fase de vapor CVD Atmosférico Baixa Pressão Par Fria Par Quente Tubo PQ PECVD Vertical P. Paralelas Remoto

O passo natural Litografia por raios-X Benefícios Baixíssimos comprimentos de onda (10-0,01nm)   altíssima resolução (~20nm) Defeitos, particulados são transparentes aos Raios-X Problemas Fontes de luz caras (sincroton) Sem óptica de redução (muito difícil, espelhos com l/20) Fonte pontual erro geométrico Máscara de difícil fabricação (1:1), empregando materiais transparentes / opacos aos raios-X: Material opaco: Metal pesado como Au Material transparente: Material leve na forma de membrana (1~2mm de Si3N4)

Nanodeposição Localizada

Nanodeposição localizada Em uma câmara em vácuo injeta-se um gás precursor em um microregião Com um feixe (de elétrons ou de íons) promove-se a reação de deposição, sobre a superfície, no local desejado

Nanodeposição localizada

Exemplos de aplicações Arranjos de cristais fotônicos fabricados por EBID6 Superpontas magnéticas de AFM

Exemplos de aplicações Arranjos de transistores SET9 Estruturas protéicas (Microtúbulos) conectadas por nanofios.10

Exemplos de aplicações Soldagem de dois nanotubos de carbono realizada por EBID de C.12

Nanofabricação de estruturas no LSI-PSI-EPUSP Abordagem “top-down” Esculpir as estruturas em substratos ou filmes previamente depositados, sendo complementar a abordagem “bottom-up”. As duas abordagens provavelmente vão se encontrar na faixa de 20nm~50nm Embora menos elegante que a abordagem “bottom-up” possui as seguintes vantagens: Utiliza todo o conhecimento acumulado das técnicas de fabricação de microeletrônica Permite a fabricação de nanoestruturas em formatos e regiões previamente escolhidas, o que viabiliza a interconexão de diversas nanoestruturas de forma coerente e organizada Viabiliza a fabricação de estruturas com dimensões micrométricas que no entanto precisam ser definidas por fatias ou trechos nanométricos, como por exemplo microlentes refrativas e difrativas de relevo contínuo

Nanofabricação de estruturas no LSI-PSI-EPUSP Para definição de estruturas nanofabricadas empregamos um MEV adaptado para litografia por feixe de elétrons (e-beam) Não usa máscara (escrita direta) e possui resolução atual de cerca de 60nm (já fabricadas). Permite prototipagem rápida diretamente a partir de desenhos gerados até mesmo em AUTOCAD. O ciclo litográfico completo leva menos de um dia a partir do layout AUTOCAD Utilizamos um microscópio eletrônico de varredura com um equipamento acessório da empresa Raith GmBH Baixíssimo throughtput, exposição estrutura a estrutura, porém de elevada resolução (potencialmente pode-se fabricar estruturas de até 3-5 vezes o diâmetro do feixe do MEV/SEM, cerca de 40nm). Na prática isto também significa aproximamente um campo com diversas estruturas exposto a cada 30min, ou 10 amostras por período