Desenvolvimento da técnica de fluorescência de raios X com

Apresentação em tema: "Desenvolvimento da técnica de fluorescência de raios X com"— Transcrição da apresentação:

1 Desenvolvimento da técnica de fluorescência de raios X com
Desenvolvimento de Métodos e Técnicas Analíticas e Nucleares - DVTEC Desenvolvimento da técnica de fluorescência de raios X com microssonda (m-XRF) Doutorando: Richard Maximiliano da Cunha e Silva Orientador: Virgílio Franco da Nascimento Filho Laboratório de Instrumentação Nuclear - 2000 LIN

2 ED-XRF implantada março/1990 a abril/1994
Justificativa ED-XRF implantada março/1990 a abril/1994 TXRF implantada maio/1995 a julho/1998 O presente trabalho tem como objetivo principal desenvolver a variante de -XRF e suas aplicabilidades na análise de vários elementos em amostras de interesse agropecuário, agroindustrial, ambiental e arqueológico 2000 LIN

3 O que é fluorescência de raios X?
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4 É uma análise multielementar instrumental baseada
na medida das intensidades dos raios X característicos emitidos pelos elementos químicos componentes na amostra 2000 LIN

5 Fluorescência de raios X
Amostra Representação da Fluorescência de raios X Detector Emissão Fonte Excitação I = C.S.A S = G.t.(1-1/j).w.f.e 2000 LIN

6 Programa AXIL 2000 LIN

7 2000 LIN

8 Elementos que podem ser detectados: Tubo : Mo - 17,4 keV(Ka) (Z=39)
W - 8,4 keV (La) (Z=28) Fontes: Fe ,9 keV (Z=23) Pu ,8 keV (Z=35) 2000 LIN

9 Análise por fluorescência de raios X
WD-XRF ED-XRF TXRF m-XRF 2000 LIN

10 Técnicas de fluorescência de raios X
WD-XRF: análise seqüencial; equipamento caro ED-XRF: análise simultânea; equipamento barato 2000 LIN

11 Variantes da fluorescência de raios X por dispersão em energia
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12 Laboratório de fluorescência de raios X
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13 Laboratório de fluorescência de raios X
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14 Mesa 2000 LIN

15 Capilares Reto Cônico Elíptico 2000 LIN

16 Aplicações 2000 LIN

17 Aplicações 2000 LIN

18 Aplicações 2000 LIN

19 Aplicações 2000 LIN

20 Aplicações B. Holynska, J. Ptasinski, W. Maenhaut and H.J. Annegarn
Energy-dispersive X-ray fluorescence spectrometer with capillary optics for for the chemical analysis of atmospheric aerosols with high time resolution B. Holynska, J. Ptasinski, W. Maenhaut and H.J. Annegarn 2000 LIN

21 Aplicações 2000 LIN

22 Equação fundamental da FRX
Análise de elementos minoritários em alumínio pela técnica de fluorescência de raios X por dispersão em energia (ED-XRF), empregando a equação dos parâmetros fundamentais 2000 LIN

23 Equação fundamental da FRX
Material Fonte de Pu-238 (3,7 GBq, U La = 13,8 keV), espectrômetro de raios X multicanal, detector semicondutor de Si(Li), aplicativo AXIL, quatro padrões finos produzidos pela MicroMatter, EUA, de Mn, Zn, Fe e Cu, 2000 LIN

24 Equação fundamental da FRX
Amostras padrões 2000 LIN

25 Equação fundamental da FRX
Resultados 2000 LIN

26 Equação fundamental da FRX
Conclusão Vantagem: de necessitar de poucos padrões Desvantagem: a determinação dos fatores de absorção 2000 LIN

27 técnica não destrutiva,
Conclusão da ED-XRF técnica não destrutiva, pequeno número de linhas no espectro de raios X, análise simultânea, não há necessidade de pré tratamento químico (TXRF), alta velocidade analítica, equipamento barato e baixo custo das análises . Vantagens Desvantagem para análise quantitativas requer métodos de correção para o efeito matriz. 2000 LIN