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Desenvolvimento da técnica de fluorescência de raios X com microssonda ( -XRF) Doutorando: Richard Maximiliano da Cunha e Silva Orientador: Virgílio Franco.

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2 Desenvolvimento da técnica de fluorescência de raios X com microssonda ( -XRF) Doutorando: Richard Maximiliano da Cunha e Silva Orientador: Virgílio Franco da Nascimento Filho Laboratório de Instrumentação Nuclear - Desenvolvimento de Métodos e Técnicas Analíticas e Nucleares - DVTEC LIN2000

3 Justificativa ED-XRF implantada março/1990 a abril/1994 TXRF implantada maio/1995 a julho/1998 O presente trabalho tem como objetivo principal desenvolver a variante de -XRF e suas aplicabilidades na análise de vários elementos em amostras de interesse agropecuário, agroindustrial, ambiental e arqueológico 2000LIN

4 O que é fluorescência de raios X? 2000LIN

5 É uma análise multielementar instrumental baseada na medida das intensidades dos raios X característicos emitidos pelos elementos químicos componentes na amostra 2000LIN

6 Amostra Representação da Fluorescência de raios X 2000LIN Fonte Excitação S = G..(1-1/j).w.f. Detector Emissão I = C.S.A

7 2000LIN Programa AXIL

8 2000LIN

9 2000LIN Elementos que podem ser detectados: Tubo : Mo - 17,4 keV(K ) (Z=39) W - 8,4 keV (L ) (Z=28) Fontes: Fe ,9 keV (Z=23) Pu ,8 keV (Z=35)

10 Análise por fluorescência de raios X WD-XRF ED-XRF TXRF -XRF 2000LIN

11 Técnicas de fluorescência de raios X 2000LIN WD-XRF: análise seqüencial; equipamento caro ED-XRF: análise simultânea; equipamento barato ED-XRF: análise simultânea; equipamento barato

12 Variantes da fluorescência de raios X por dispersão em energia 2000LIN

13 2000LIN Laboratório de fluorescência de raios X

14 2000LIN

15 Mesa 2000LIN

16 Capilares Reto Cônico Elíptico 2000LIN

17 2000LIN Aplicações

18 2000LIN Aplicações

19 2000LIN Aplicações

20 2000LIN Aplicações

21 2000LIN Aplicações Energy-dispersive X-ray fluorescence spectrometer with capillary optics for for the chemical analysis of atmospheric aerosols with high time resolution B. Holynska, J. Ptasinski, W. Maenhaut and H.J. Annegarn

22 2000LIN Aplicações

23 Análise de elementos minoritários em alumínio pela técnica de fluorescência de raios X por dispersão em energia (ED-XRF), empregando a equação dos parâmetros fundamentais 2000LIN Equação fundamental da FRX

24 Material Fonte de Pu-238 (3,7 GBq, U L = 13,8 keV), espectrômetro de raios X multicanal, detector semicondutor de Si(Li), aplicativo AXIL, quatro padrões finos produzidos pela MicroMatter, EUA, de Mn, Zn, Fe e Cu, 2000LIN Equação fundamental da FRX

25 Amostras padrões 2000LIN Equação fundamental da FRX

26 Resultados 2000LIN Equação fundamental da FRX

27 Conclusão Equação fundamental da FRX 2000LIN Vantagem: de necessitar de poucos padrões Desvantagem: a determinação dos fatores de absorção

28 Conclusão da ED-XRF técnica não destrutiva, pequeno número de linhas no espectro de raios X, análise simultânea, não há necessidade de pré tratamento químico (TXRF), alta velocidade analítica, equipamento barato e baixo custo das análises. Vantagens Desvantagem para análise quantitativas requer métodos de correção para o efeito matriz. 2000LIN


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